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纳米结构的探针—小角中子散射(SANS)技术 及应用简介

发布日期:2022年07月26日    浏览量:[]

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   报告题目:纳米结构的探针—小角中子散射(SANS)技术 及应用简介

报告人简介:柯于斌研究员

时间:2022728日(星期四),上午10:00-11:30

地点:腾讯视频会议号:387-376-601

报告摘要:

原子到纳米尺度的微观结构是材料性能的决定性因素,其精确表征和调控是材料科学领域的重要研究内容。小角中子散射(SANS)是一种新型的纳米结构表征技术,可获得材料内部1~100 nm的化学成分、密度和磁的不均匀结构信息。SANS的散射信号主要与衬度、形状因子和结构因子有关,据此可以开展相关实验方法学的研究,并通过直接解析和模型拟合方法对数据进行解读。利用中子的高穿透性、无损、有磁矩和对轻元素敏感的特性,SANS在材料、化学、能源和生物等多个学科领域具有广泛的应用。建设在东莞的中国散裂中子源(CSNS)的小角中子散射仪已于2018年对外开放运行,可实现在高低温、应力和磁场加载条件下对纳米结构的动态演变过程进行原位观测。目前已完成大量的用户实验课题并有了越来越多的高质量成果产出。基于CSNS小角中子散射仪的特点,本报告将对小角中子散射实验技术的基本原理、数据处理和实验申请进行简介,并结合SANS@CSNS用户实验的典型实例对该技术在多学科领域中的具体应用进行介绍。

报告人简介:

柯于斌,中科院高能所东莞研究部研究员,小角散射仪课题组长,首席谱仪科学家。博士毕业于北京航空航天大学材料物理与化学专业。2010年起在中国科学院高能物理研究所工作,2015年至2016年,在香港城市大学物理与材料系访问交流。2020年入选为中国科学院青年创新促进会会员。参与了中国散裂中子源SANS谱仪的建设,带领团队完成了谱仪的调试运行和国家验收。目前主要负责SANS谱仪的用户实验、新型实验方法的开发和多学科应用研究。报告人主要致力于采用同步辐射X射线和中子散射技术从原子和纳米尺度上对材料的结构演化过程进行(原位)观测,从而阐释不同性能的微观结构起源,构建结构-性能的关联模型。具体研究方向包括磁性功能合金,高熵和非晶合金等。目前已在JACS, Angew Chem., Adv. Mater., Acta Mater.,Appl. Phys. Lett.和Mater. Sci. &Eng. A等国际期刊上发表论文近50篇,申请发明专利9项。

                                                                   主办单位:澳门新葡京 网址科学技术发展研究院、新能源与材料学院

                                                                                      油气藏地质及开发工程国家重点实验室

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